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| 一種ＦＰＧＡ內嵌雙端口存儲器的測試方法，將ＦＰＧＡ中的內嵌雙端口存儲器全部配置為可選工作模式中的同一種，將同一類端口的輸入并行連接到一起作為公共輸入端；測試時，先采用Ｍａｒｃｈ Ｃ算法輪流測試兩類端口，然后對兩類端口同時施加組合向量，進行兩端口的關聯性故障測試，判斷存儲器輸出的正確性。本發明有效地完成了ＦＰＧＡ內嵌雙端口存儲器的測試，測試覆蓋率達到１００％，且合理利用了ＦＰＧＡ中空閑的資源作為檢驗邏輯，簡化了調試過程，減少了輸入輸出端口，大大提高了測試效率。 |
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一種FPGA內嵌雙端口存儲器的測試方法
一種ＦＰＧＡ內嵌雙端口存儲器的測試方法，其特征在于步驟如下： （１）對ＦＰＧＡ內嵌的各雙端口存儲器的兩個存儲端口進行編號，分別為端口Ａ（２０１）和端口Ｂ（２０２）； （２）將各內嵌雙端口存儲器端口Ａ（２０１）的輸入地址端Ａ（２０３）、輸入數據端Ａ（２０４）、端口使能端Ａ（２０５）、讀寫使能端Ａ（２０６）、復位控制端Ａ（２０７）、時鐘輸入端Ａ（２０８）分別并聯在一起作為公共輸入端Ａ（３０１），將各內嵌雙端口存儲器端口Ａ（２０１）的輸出端（２１５）按位分別并聯在一起作為并行輸出端Ａ（３０５）；將各內嵌雙端口存儲器端口Ｂ（２０２）的輸入地址端Ｂ（２０９）、輸入數據端Ｂ（２１０）、端口使能端Ｂ（２１１）、讀寫使能端Ｂ（２１２）、復位控制端Ｂ（２１３）、時鐘輸入端Ｂ（２１４）分別并聯在一起作為公共輸入端Ｂ（３０２），將各內嵌雙端口存儲器端口Ｂ（２０２）的輸出端（２１６）按位分別并聯在一起作為并行輸出端Ｂ（３０６）； （３）將各內嵌雙端口存儲器配置為相同的工作模式； （４）將各內嵌雙端口存儲器的端口Ａ（２０１）設為有效，端口Ｂ（２０２）設為無效，通過公共輸入端Ａ（３０１）對并聯的各存儲器施加Ｍａｒｃｈ Ｃ算法測試向量進行故障測試； （５）將各內嵌雙端口存儲器的端口Ｂ（２０２）設為有效，端口Ａ（２０１）設為無效，通過公共輸入端Ｂ（３０２）對并聯的各存儲器施加Ｍａｒｃｈ Ｃ算法測試向量進行故障測試； （６）將各內嵌雙端口存儲器的端口Ａ（２０１）和端口Ｂ（２０２）同時設為有效，通過公共輸入端Ａ（３０１）和公共輸入端Ｂ（３０２）對并聯的各存儲器同時施加組合向量進行兩端口的關聯性故障測試； （７）將各內嵌雙端口存儲器設置為相同的其它工作模式，重復步驟（４）～（６）進行測試。
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| 專利號: |
200810112419 |
| 申請日: |
2008年5月23日 |
| 公開/公告日: |
2008年10月15日 |
| 授權公告日: |
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| 申請人/專利權人: |
北京時代民芯科技有限公司、中國航天時代電子公司第七七二研究所 |
| 國家/省市: |
北京(11) |
| 郵編: |
100076 |
| 發明/設計人: |
陳雷、張帆、文治平、周濤、張志權、李學武、王勇、儲鵬、張彥龍、孫華波、劉增榮 |
| 代理人: |
安麗 |
| 專利代理機構: |
航空航天工業部航天專利事務所(11009) |
| 專利代理機構地址: |
北京市和平里濱河路1號(100013) |
| 專利類型: |
發明 |
| 公開號: |
101286367 |
| 公告日: |
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| 授權日: |
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| 公告號: |
000000000 |
| 優先權: |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數: |
2 |
| 頁數: |
12 |
| 權利要求項數: |
5 |
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